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产品名称:X-RAY膜厚测试仪韩国XRF-2000L测厚仪

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产品特点:X射线镀层测厚仪XRF-2020L膜厚仪
检测电子电镀,化学电镀层厚度,
测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层
X-RAY膜厚测试仪韩国XRF-2000L测厚仪

X-RAY膜厚测试仪韩国XRF-2000L测厚仪的详细资料:

X-RAY膜厚测试仪韩国XRF-2000L测厚仪


用于测量PCB及五金、连接器、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。

只需要10-30秒即可获得测量结果

小测量面积为直径为0.2mm的圆面积;

测量范围:0-35um;


可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量


X-RAY膜厚测试仪韩国XRF-2000L测厚仪

X-RAY膜厚测试仪韩国XRF-2000L测厚仪


电镀膜厚仪型号功能XRF-2020测厚仪规格

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg


仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

X-RAY膜厚测试仪韩国XRF-2000L测厚仪

快速无损测量

镀金,镀银,镀锡,镀银,镀镍,镀铜,镀锌镍合金等!

适应电子电镀表面处理,五金,端子连接器,半导体,PCB板

汽车零配件磁性材料等行业。









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